說明：1．本考試大綱包括基礎(chǔ)知識和實驗兩部分，考分比例分別占70％和30％。

    2．本考試大綱在基本要求的敘述過程中，將學(xué)習(xí)內(nèi)容的重要程度分為熟練掌握、掌握、理解、了解等四個層次。

    3．考試的題型有：單項選擇題填空題、判斷題、識圖題(含波形分析)，以及難度適當(dāng)?shù)脑O(shè)計題。

    第一部分  基礎(chǔ)知識

    第一章  數(shù)學(xué)邏輯基礎(chǔ)

    基本要求：熟練掌握不同數(shù)值的計數(shù)方法，熟練掌握二進(jìn)制數(shù)與十進(jìn)制的轉(zhuǎn)換，理解二進(jìn)制數(shù)與二進(jìn)制碼之間的關(guān)系，熟練掌握邏輯函數(shù)的基本運算，掌握邏輯代數(shù)運算的基本規(guī)則，熟練掌握邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡法。

    考試內(nèi)容：二進(jìn)制數(shù)與十進(jìn)制數(shù)的轉(zhuǎn)換，用卡諾圖化簡邏輯函數(shù)。

    第二章  邏輯門電路

    基本要求：了解晶體二極管和晶體三極管的開關(guān)特性，了解基本門電路的典型電路，掌握基本門電路的電路符號，熟練掌握基本門電路輸入變量和輸出變量的邏輯關(guān)系，了解TTL邏輯門電路、MOS邏輯門電路的特點，了解正、負(fù)邏輯之間的關(guān)系，掌握邏輯門電路使用中的幾個實際問題。

    考試內(nèi)容：基本門電路輸入變量和輸出變量的邏輯關(guān)系，TTL與CMOS邏輯門電路之間的接口技術(shù)、TTL和CMOS電路外接負(fù)載時注意的問題，多余輸入端常用的處理措施。

    第三章  組合邏輯電路

    基本要求：熟練掌握組合邏輯電路的分析、設(shè)計方法，能夠分析編碼器和譯碼器典型電路，了解七段數(shù)學(xué)顯示譯碼器的工作原理，了解數(shù)據(jù)選擇器的工作原理，熟練掌握基本算術(shù)運算電路及其典型應(yīng)用。

    考試內(nèi)容：根據(jù)給定的任務(wù)，設(shè)計出符合功能要求的組合邏輯電路；根據(jù)給定的組合邏輯電路，判斷其功能。

    第四章  時序邏輯電路

    基本要求：熟練掌握各觸發(fā)器的電路符號、真值表、特性方程，了解TTL集成觸發(fā)器、CMOS觸發(fā)器的特點，能夠分析移位寄存器、計數(shù)器的工作過程，了解時序邏輯電路分析和設(shè)計的一般過程。

    考試內(nèi)容：RS觸發(fā)器、JK觸發(fā)器和D觸發(fā)器之間的轉(zhuǎn)換，移位寄存器(以四位為限)的工作過程，二進(jìn)制和非二進(jìn)制計數(shù)器工作狀態(tài)的分析。

    第五章  半導(dǎo)體存儲器

    基本要求：掌握RAM、ROM兩大類別半導(dǎo)體存儲器的主要特點，理解SRAM、DRAM的工作特點，了解CCD的工作原理。

    考試內(nèi)容：RAM存儲容量的計算以及存儲容量的擴(kuò)展，DRAM的讀寫及刷新操作過程。

    第六章  脈沖信呈的產(chǎn)生與整形

    基本要求：了解脈沖信號整形的意義，理解脈沖波形主要指標(biāo)的物理意義，掌握多諧振器典型電路的工作過程。

    考試內(nèi)容：施密特觸發(fā)器的實質(zhì)及工作原理，由555電路構(gòu)成的定時電路。

    第七章  A／D與D／A轉(zhuǎn)換器

    基本要求：深刻理解采樣定理的涵義，掌握采樣--保持過程的基本概念，理解不同A／D轉(zhuǎn)換方式的特點，掌握R－2R梯形網(wǎng)絡(luò)的工作原理，理解A／D，D／A變換的應(yīng)用。

    考試內(nèi)容：采樣—保持過程的工作原理，A／D，D／A轉(zhuǎn)換器的基本工作原理。

    第二部分  實驗

    要求：通過實驗，考核學(xué)員使作常規(guī)電子儀器的能力，考核學(xué)員對各實驗的理解情況，在實際操作過程中，考察學(xué)員對基本概念的掌握程度，并據(jù)此給予正確的評分。

    實驗一  雙蹤示波器及其使用

    一、實驗?zāi)康?/p>

    1．掌握雙蹤示波器的基本工作原理。

    2．掌握雙蹤示波器測量骯沖波形參數(shù)的方法。

    3．掌握脈沖信號發(fā)生器的使用方法。

    二、實驗內(nèi)容

    1．測量示波器的校正信號。

    2．測量脈沖信號發(fā)生器輸出的方波信號。

    3．測量RC網(wǎng)絡(luò)對方波信號的響應(yīng)。

    三、實驗報告要求

    1．按任務(wù)要求記錄實驗結(jié)果。

    2．波形圖必須在方格坐標(biāo)紙上，并標(biāo)出直流零電壓線的位置。

    實驗二  晶體管開關(guān)特必限幅器與鉗位器

    一、實驗?zāi)康?/p>

    1．了解晶體管開關(guān)特性。

    2．理解限幅器的基本工作原理。

    3．了解鉗位器的工作原理。

    二、實驗內(nèi)容

    1．二極管反向恢復(fù)時間的觀察。

    2．晶體三極管開關(guān)特性的觀察。

    3．晶體二極管限幅器。

    4．晶體二極管鉗位器。

    三、實驗報告要求

    1．實測得到的波形必須畫在方格坐標(biāo)紙上，標(biāo)出零電壓線，并對它們進(jìn)行分析討論。

    2．根據(jù)對晶體三極管開關(guān)特性的觀察結(jié)果，總結(jié)外電路元件參和對晶體三極管開關(guān)特性的影響。

    實驗三  TTL集成門的測試與使用

    一、實驗?zāi)康?/p>

    1．掌握TFL與非門邏輯功能的測試方法。

    2．掌握TTL與非門主要參數(shù)的測試方法。

    二、實驗內(nèi)容

    1．測量TTL集成與非門的靜態(tài)參數(shù)。

    2．測量TTL成與非門的平均傳輸延遲時間。

    3．在實驗板上連接電路，測量該電路的邏輯功能，根據(jù)測試結(jié)果寫出邏輯表達(dá)式。

    三、實驗報告要求

    1．測試各參數(shù)必須附有測試電路圖，記錄測試數(shù)據(jù)，并對結(jié)果進(jìn)行分析。
    2．靜態(tài)傳輸特性曲線必須畫在方格坐標(biāo)紙上，從曲線中讀出所需要的數(shù)據(jù)。
    3．討論TTL集成與非門中，對不使用輸入端的各種處置方法的優(yōu)缺點。

    實驗四  CMOS與非門傳輸特性的位置

    一、實驗?zāi)康?/p>

    1．掌握CMOS與非門邏輯功能的測量方法。
    2．掌握CMOS與非門主要參數(shù)的測試方法。

    二、實驗內(nèi)容

    1．測量CMOS與非門的傳輸特性。
    2．連接CMOS與TTL接口電路。

    三、實驗報告要求

    1．測量各項參數(shù)必須附有測試電路圖，記錄測試數(shù)據(jù)，并對結(jié)果進(jìn)行分析。
    2．討論TTL與CMOS接口電路的組成原則。

    實驗五  規(guī)模集成電路設(shè)計組合邏輯電路

    一、實驗?zāi)康?/p>

    1．初步掌握用小規(guī)模集成電路設(shè)計組合電路的方法。
    2．觀察組合電路的冒險現(xiàn)象。

    二、實驗內(nèi)容

    設(shè)計任務(wù)可由任課教師選定，建議采用如下內(nèi)容：

    (1)設(shè)計一個四位式碼的數(shù)字鎖；

    (2)給定真值表，設(shè)計符合要求的邏輯電路；

    (3)用與非門電路設(shè)計十字交叉路口的紅綠燈控制電路。

    三、實驗報告要求

    1．寫出任務(wù)的設(shè)計過程，畫出設(shè)計出的電路圖。

    2．記錄檢測結(jié)果，并進(jìn)行分析。

    3．畫出冒險現(xiàn)象的工作波形，必須標(biāo)出零電壓坐標(biāo)。

    實驗六  中規(guī)模組合功能的應(yīng)用

    一、實驗?zāi)康?/p>

    1．掌握數(shù)據(jù)選擇器、譯碼器和全加器的中規(guī)模集成電路的使用方法。

    2．了解中規(guī)模集成電路組合功能件的應(yīng)用。

    二、實驗內(nèi)容

    1．采用二個4選1的數(shù)據(jù)選擇器和一只非門電路，實現(xiàn)一個8選1的數(shù)據(jù)選擇器功能。

    2．設(shè)計一個4位二進(jìn)制加法／減法電路，檢測電路功能。

    三、實驗報告要求

    每個實驗任務(wù)必須寫出設(shè)計過程，畫出設(shè)計邏輯圖，附有實驗記錄，并對結(jié)果進(jìn)行分析。

    實驗七  集成觸發(fā)器和用小規(guī)模集成電路設(shè)計同步時序電路

    一、實驗?zāi)康?/p>

    1．掌握集成觸發(fā)器的使用方法和邏輯功能的測試方法。

    2．初步掌握用小規(guī)模集成電路設(shè)計同步時序電路及其檢測方法。

    二、實驗內(nèi)容

    1．JK觸發(fā)器的功能測試。

    2．D觸發(fā)器的功能測試。

    3．用JK觸發(fā)器設(shè)計一個十進(jìn)制的同步加法計數(shù)器

    三、實驗報告及要求

    1．按任務(wù)要求記錄實驗數(shù)據(jù)。

    2．寫出任務(wù)設(shè)計過程，畫出邏輯圖。

    3．?dāng)?shù)據(jù)記錄力求表格化，波形羅必須畫在方格坐標(biāo)紙上。

    實驗八  中規(guī)模集成電路時序功能件的應(yīng)用

    一、實驗?zāi)康?/p>

    1．掌握集成計數(shù)器和雙向移位寄存器的使用方法。

    2．了解中規(guī)模集成電路時序功能件的應(yīng)用。

    3．了解顯示譯碼器和數(shù)碼管的使用方法。

    二、實驗內(nèi)容

    1．用中規(guī)律二--五--十進(jìn)制異步計數(shù)器電路(如 T4290)實驗NBCD碼計數(shù)器。

    2．用典型的顯示譯碼器(如CLl01，CH284)，組成顯示輸出的譯碼器，記錄不同輸入信號下，數(shù)碼變化情況。

    3．了解移位寄存器(如T4194)的使用方法。

    三、實驗報告要求

    1．畫出實驗電路圖，對實驗記錄進(jìn)行分析。

    2．工作波形必須畫在方格坐標(biāo)紙上。

    3．設(shè)計性任務(wù)要寫出設(shè)計過程，并畫出邏輯圖。

    實驗九  脈沖信號產(chǎn)生電路

    一、實驗?zāi)康?/p>

    1．掌握使用集成邏輯門、集成單穩(wěn)觸發(fā)器和555時基電路，來設(shè)計脈沖信號產(chǎn)生電路的方法

    2．了解定時元件對輸出脈沖波形的影響

    二、實驗內(nèi)容

    1．利用與非門組成脈沖信號產(chǎn)生電路。

    2．采用555時基電路組成脈沖信號產(chǎn)生電路。

    三、實驗報告要求

    1．寫出設(shè)計計算過程，畫出標(biāo)有元件參數(shù)的實驗電路圖，并對測試結(jié)果進(jìn)行分析。

    2．在方格坐標(biāo)紙上畫出工作波形圖，圖中必須標(biāo)出零電壓位置。

    實驗十  隨機(jī)存取存儲器的應(yīng)用

    一、實驗?zāi)康?/p>

    熟悉隨機(jī)存取存儲器的功能及其應(yīng)用。

    二、實驗內(nèi)容

    在工作方式開關(guān)控制下，使SRAM芯片分別執(zhí)行讀功能。

    三、實驗要求

    按任務(wù)要求編寫相應(yīng)地址的存儲內(nèi)容，畫出實驗電路圖，記錄電路的檢測結(jié)果，并對結(jié)果進(jìn)行分析。

    實驗十一  模／數(shù)轉(zhuǎn)換器的應(yīng)用

    一、實驗?zāi)康?/p>

    初步掌握A／D轉(zhuǎn)換器的使用方法和典型應(yīng)用。

    二、實驗內(nèi)容

    采用CCl4433A／D轉(zhuǎn)換器(或相類似的A／D轉(zhuǎn)換器)，組成量程為2V的簡易的32／1的直流數(shù)字電壓表。

    三、實驗報告要求

    1．畫出實驗電路圖。

    2．寫出設(shè)計部分的設(shè)計計算過程。

    3．對實測數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

    使用教材

    《電子技術(shù)基礎(chǔ)(數(shù)字部分)》(第三版)  康華光  高等教育出版社